X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关生产企业提供了一种检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。

应用领域：

地质样品领域：针对地质领域压片和熔片两类样品分别开发了应用方法体系，可以为地质研究、找矿提供可靠的检测数据。

建材样品领域：针对多种建材样品的分析需求，建立了水泥、涂料等样品应用方法体系，实现对样品的高精度分析。

新材料样品领域：能够解决新材料研究领域宽幅、无损、全元素分布分析的难题。

生态环境领域：针对生态环境中的土壤、植物、水系沉积物、空气颗粒物等样品的分析需求，建立了整体的解决方案。通过研究不同时期形成的土壤层、沉积层中的有害重金属元素含量分布特征，为环境评价提供可靠的指标参数。