- ZSX Primus波长X射线荧光光谱仪对片状切削的钢种的判别
- 点击次数：1315 更新时间：2023-03-03
广州仪德公司专业代理日本理学波长X射线荧光光谱仪，在近年来，在X射线荧光分析的样品置备方面，对微小及微量样品的要求日趋严格。针对用传统仪器不能解决的样品制备及测试等问题，通过对仪器的高灵敏度化和新方法的开发，不仅解决了以上问题，而且应用范围越来越广泛。
下面分享如何应用ZSX Primus系列波长X射线荧光光谱仪能够以CCD相机拍摄样品表面后得到的图象为基础，任意测试位置进行定性分析的仪器，通过对一片片状切削屑进行定性分析及半定量值分析的结果，判别其钢种。
操作部分
一、仪器
波长色散X射线荧光光谱仪（ZSX Primus系列，仪德代理）
二、样品制备
将样品放在有黏着剂的薄板上加压成型备用。
三、测试条件
元素
F~Mg
Al,Si
P,S
Cl
K,Ca
Ti~U
X射线管
端窗型 Rh管
kV-mA
30-120
30-120
30-120
30-120
40-90
50-72
分析直径
0.5mm
狭缝
标准分辨率
标准分辨率
标准分辨率
高分辨率
标准分辨率
标准分辨率
分光晶体
TAP
PET
Ge
Ge
LiF200
LiF200
检测器
F-PC
F-PC
F-PC
F-PC
F-PC
SC
PHA
微分法
X射线通道
真空
四、测试结果
将样品作片状切削后，切削屑变形为圆锥形。放在附着黏合剂的薄板上加压成型后，放入微区分析专用样品架中。
上图显示出CCD相机拍摄的样品表面图。将分析面积设定在0.5mmφ进行定性分析。
通过定性分析，检测出Fe,Cr,V,W,Mo等元素。如下图所示，得到了充分体现波长色散型仪器的特征---具有高精度角度分辨率，而且散射线（背景）低的图表。
Fe,Co
Cr
V
W,Cu
Mo
关于检测出的成分，使用仪器内置的灵敏度数据库，通过FP法计算出半定量值，结果如下图所示。根据牌号库，可以确认片状切削屑为工具钢的一种。
表-1 SQX分析结果和样品规格[mass%]
SQX
SKH10(例)
Mn
0.35
<0.40
Cr
4.2
3.80 - 4.50
Mo
0.69
-
V
4.6
4.20 - 5.20
W
12.3
11.50 - 13.50
Co
5.0
4.20 - 5.20
Cu
0.20
-
Fe
72.7
残分
五、实验总结
类似于这样的微量样品，通过选择合适的样品制备和分析方法，可以得到另人满意的分析数据。关于片状样品，使用X射线分析法能够有效分析出其构成钢种。今后，发挥样品测试后可以回收的特点，在微量样品定量值评价方面，会有新的用途。了解更多有关X射线荧光光谱仪的相关知识及应用方案，关注仪德微信公众号及，有对此有更好的看法可致仪德邮箱发表你的看法。